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磁导率仪,磁导率测定仪,金属电导率仪,激光涂层测厚仪,超声波C扫描系统,钝化膜测试仪,电导率测量仪,涡流探伤仪

产品资料

奥林巴斯复合晶片探伤仪探头

如果您对该产品感兴趣的话,可以
产品名称: 奥林巴斯复合晶片探伤仪探头
产品型号: CHC706-RM
产品展商: 美国泛美
产品文档: 无相关文档
简单介绍

奥林巴斯复合晶片探伤仪探头,奥林巴斯复合晶片探伤仪探头。

详细介绍
奥林巴斯复合晶片探伤仪探头
双晶探头在同一个外壳中装有由隔音屏障分开的两个晶片。一个晶片发射纵波,另一个晶片作为接收器接收声波。


奥林巴斯复合晶片探伤仪探头

应用

? 剩余壁厚测量。
? 腐蚀/侵蚀监控。
? 焊缝覆盖和覆层的粘胶/脱胶检测。
? 探测铸件和?#22270;?#20013;的多孔性、?#24615;?#29289;、裂纹及分层等缺陷。
? 探测螺栓或其它圆柱形部件中的裂纹。

? 等于或小于5.0 MHz的探头可承受的*高温度为425°C800°F);7.5 MHz10 MHz的探头可承受的*高温度为175°C350°F)。表面温度在90°C200°F)到425°C800°F)的情况下,建议使用的占空因数为*多10

 钟接触,然后进行*少1分钟?#30446;?#27668;冷却(不适用于袖珍尖端双晶)。

? 金属防磨环延长了探头的寿命。
? 在探头面需要重做表面处理时,防磨指示器会提供参?#22841;?#24687;。
? 滚花,303不锈钢外壳。


? 可更换线缆的设计(备有带应变泄落功能的特殊双线缆)。


奥林巴斯复合晶片探伤仪探头

复合晶片齐头外壳双晶


频率
标称
晶片尺寸
探头
工件编号
MHz
英寸
毫米
2.25
0.50
13
CHC706-RM

深圳市泰立仪器仪表有限公司

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